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PATINFO 2022

June 22, 2022 - June 22, 2022 - June 24, 2022 - June 24, 2022

PATINFO 2022

 

PATINFO2022 June 22nd – 24th 2022 at Congress Centrum Suhl.

Join us for workshop on  

Coverage, Completeness, Correctness – Qualität der Datenbestände kommerzieller
Patentdatenbanken

Abstract: Die Behördenabdeckung, Vollständigkeit und Richtigkeit (Coverage, Completeness, Correctness) sind wesentliche Kriterien zur Bewertung der Qualität einer kommerziellen Patentdatenbank. Oft sind die Angaben der Hersteller oberflächlich, Informationen zur Vollständigkeit und Richtigkeit werden nicht in Form von statistisch konkreten Angaben bereitgestellt.

Der Vortrag zeigt Auswertungen zu den Kriterien Vollständigkeit und Richtigkeit vonPatentdaten in den führenden kommerziellen Patentdatenbanken. Dabei werden die Methoden und besonderen Herausforderung zur Ermittlung dieser Parameter exemplarisch an deutschen Datensätzen vorgestellt und konkrete Auswertungen besprochen.

Presenter : Dr. Alexander W. Giesen

Visit us at Booth no. 7  for presentation on Company and Product Updates on June 22 2022, Wednesday, 16:00 – 16:45 CET

This presentation will help you answer the following questions:

  • What’s new at PatSeer since the last PATINFO 2021 workshop and why professional searchers are liking PatSeer even more?
  • What are the new AI infused search and analytic tools in PatSeer Pro and how can you leverage them to take on complex tasks?

    PATINFO2022 June 22nd – 24th 2022 at Congress Centrum Suhl.

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    Coverage, Completeness, Correctness – Qualität der Datenbestände kommerzieller
    Patentdatenbanken

    Abstract: Die Behördenabdeckung, Vollständigkeit und Richtigkeit (Coverage, Completeness, Correctness) sind wesentliche Kriterien zur Bewertung der Qualität einer kommerziellen Patentdatenbank. Oft sind die Angaben der Hersteller oberflächlich, Informationen zur Vollständigkeit und Richtigkeit werden nicht in Form von statistisch konkreten Angaben bereitgestellt.

    Der Vortrag zeigt Auswertungen zu den Kriterien Vollständigkeit und Richtigkeit vonPatentdaten in den führenden kommerziellen Patentdatenbanken. Dabei werden die Methoden und besonderen Herausforderung zur Ermittlung dieser Parameter exemplarisch an deutschen Datensätzen vorgestellt und konkrete Auswertungen besprochen.

    Presenter : Dr. Alexander W. Giesen

    Visit us at Booth no. 7  for presentation on Company and Product Updates on June 22 2022, Wednesday, 16:00 – 16:45 CET

    This presentation will help you answer the following questions:

    • What’s new at PatSeer since the last PATINFO 2021 workshop and why professional searchers are liking PatSeer even more?
    • What are the new AI infused search and analytic tools in PatSeer Pro and how can you leverage them to take on complex tasks?

Details

Start:
June 22, 2022 -
End:
June 24, 2022 -
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