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PATINFO 2022
June 22, 2022 - June 22, 2022 - June 24, 2022 - June 24, 2022
PATINFO2022 June 22nd – 24th 2022 at Congress Centrum Suhl.
Join us for workshop on
Coverage, Completeness, Correctness – Qualität der Datenbestände kommerzieller
Patentdatenbanken
Abstract: Die Behördenabdeckung, Vollständigkeit und Richtigkeit (Coverage, Completeness, Correctness) sind wesentliche Kriterien zur Bewertung der Qualität einer kommerziellen Patentdatenbank. Oft sind die Angaben der Hersteller oberflächlich, Informationen zur Vollständigkeit und Richtigkeit werden nicht in Form von statistisch konkreten Angaben bereitgestellt.
Der Vortrag zeigt Auswertungen zu den Kriterien Vollständigkeit und Richtigkeit vonPatentdaten in den führenden kommerziellen Patentdatenbanken. Dabei werden die Methoden und besonderen Herausforderung zur Ermittlung dieser Parameter exemplarisch an deutschen Datensätzen vorgestellt und konkrete Auswertungen besprochen.
Presenter : Dr. Alexander W. Giesen
Visit us at Booth no. 7 for presentation on Company and Product Updates on June 22 2022, Wednesday, 16:00 – 16:45 CET
This presentation will help you answer the following questions:
- What’s new at PatSeer since the last PATINFO 2021 workshop and why professional searchers are liking PatSeer even more?
- What are the new AI infused search and analytic tools in PatSeer Pro and how can you leverage them to take on complex tasks?
PATINFO2022 June 22nd – 24th 2022 at Congress Centrum Suhl.
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Coverage, Completeness, Correctness – Qualität der Datenbestände kommerzieller
PatentdatenbankenAbstract: Die Behördenabdeckung, Vollständigkeit und Richtigkeit (Coverage, Completeness, Correctness) sind wesentliche Kriterien zur Bewertung der Qualität einer kommerziellen Patentdatenbank. Oft sind die Angaben der Hersteller oberflächlich, Informationen zur Vollständigkeit und Richtigkeit werden nicht in Form von statistisch konkreten Angaben bereitgestellt.
Der Vortrag zeigt Auswertungen zu den Kriterien Vollständigkeit und Richtigkeit vonPatentdaten in den führenden kommerziellen Patentdatenbanken. Dabei werden die Methoden und besonderen Herausforderung zur Ermittlung dieser Parameter exemplarisch an deutschen Datensätzen vorgestellt und konkrete Auswertungen besprochen.
Presenter : Dr. Alexander W. Giesen
Visit us at Booth no. 7 for presentation on Company and Product Updates on June 22 2022, Wednesday, 16:00 – 16:45 CET
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- What’s new at PatSeer since the last PATINFO 2021 workshop and why professional searchers are liking PatSeer even more?
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